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硅片局部升溫,根據(jù)拉曼光譜平移變化確定其局部溫度的變化。

瀏覽:423   解答:1發(fā)布人:程康
  • 咨詢方式:文本
  • 問(wèn)題類別:詢盤(pán)
  • 發(fā)布時(shí)間:2020-08-24 15:35:51
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問(wèn)題描述:

硅片局部升溫,根據(jù)拉曼光譜平移變化確定其局部溫度的變化。

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已解答: (1)

2020-08-25

廣州微平科技服務(wù)有限公司

類型:檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)

http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做,歡迎咨詢 預(yù)約須知 1,粉末量要求50mg左右; 2,固體/塊狀樣品尺寸要求最小2*2mm,最大不超出5*5cm; 3,液體無(wú)法直接測(cè)試; 4,每樣品測(cè)2個(gè)點(diǎn)左右; 5,其他特殊要求請(qǐng)先聯(lián)系當(dāng)?shù)亟?jīng)理或撥打客服熱線。 拉曼光譜(Raman) 型號(hào): 法國(guó)HORIBA Jobin Yvon S.A.S公司 LabRAM HR Evolution; thermo dionex aquion; 顯微共聚焦拉曼光譜儀 雷尼紹 inVia Qontor; Renishaw invia reflex共聚焦激光拉曼光譜儀,冷熱臺(tái)(-196°C~ 600°C) 測(cè)試項(xiàng)目: 325,514,532,633,785(325從200開(kāi)始測(cè),其余激光器波長(zhǎng)都從50開(kāi)始測(cè)) 更多測(cè)試要求請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理; 樣品要求: 1. 樣品狀態(tài):可為粉末、溶液、塊狀、薄膜樣品 2. 粉末樣品:粉末要求至少50mg 3. 溶液樣品:無(wú)法直接測(cè)試,需滴在硅片上烘干; 4. 塊狀、薄膜樣品:固體樣品尺寸要求最小2*2 mm,最大不超出5*5cm;一定要標(biāo)明測(cè)試面! 5. 每樣品測(cè)2個(gè)點(diǎn)左右
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