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2025年09月21日 星期日
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X射線衍射儀：看磁顆粒結晶狀態，計算磁性顆粒平均晶粒度，可以對比Fe3O4標準譜，確定制備顆粒是否有

瀏覽：245　　　解答：1發布人：詹
  • 咨詢方式：文本
  • 問題類別：詢盤
  • 發布時間：2020-04-16 13:42:39
111積分

問題描述:

X射線衍射儀：看磁顆粒結晶狀態，計算磁性顆粒平均晶粒度，可以對比Fe3O4標準譜，確定制備顆粒是否有雜質 透射電子顯微鏡：觀察顆粒狀態和測量粒徑 掃描電子顯微鏡：觀察顆粒狀態和測量粒徑

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已解答: (1)

2020-04-16

廣州微平科技服務有限公司

類型：檢測認證機構

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