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單晶金剛石片,用原子力顯微鏡測試樣品的表面粗糙度(AFM)。如果一個點(掃描區域)不理想,可以換另外
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單晶金剛石片,用原子力顯微鏡測試樣品的表面粗糙度(AFM)。如果一個點(掃描區域)不理想,可以換另外
瀏覽:513 解答:1發布人:唐勇杰
- 咨詢方式:文本
- 問題類別:詢盤
- 發布時間:2020-06-03 12:53:55
111積分
問題描述:
單晶金剛石片,用原子力顯微鏡測試樣品的表面粗糙度(AFM)。如果一個點(掃描區域)不理想,可以換另外一個點(掃描區域)測試。(希望樣品的粗糙度要控制在20nm 以下)
已解答: (1)
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預約須知1. 樣品狀態:可為粉末、塊體、薄膜樣品;2. 粉末樣品:顆粒一般不超過5微米,提供20mg,尺寸過大請提前咨詢客戶經理;3.?粉末/液體樣品請務必備注好制樣條件,包括分散液,超聲時間及配制濃度;4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過5um,一定要標明測試面!5.?測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上,基底大小最小不小于1*1cm。其他問題請咨詢客戶經理。原子力顯微鏡AFM型號:Bruker Dimension Edge;Bruker Dimension ICON等測試項目:a.?粉末,溶液,塊狀樣品的表面形貌,厚度,粗糙度測試b. 生物/纖維樣品的表面形貌c.?相圖d.? PFM(壓電力顯微鏡), EFM(電場力顯微鏡), KPFM(表面電勢,Kelvin探針), MFM(磁力顯微鏡), CAFM(導電原子力顯微鏡),QNM(彈性模量),力曲線等特殊模式。更多測試要求請咨詢客戶經理;樣品要求:1. 樣品狀態:可為粉末、塊體、薄膜樣品;2. 粉末樣品:顆粒一般不超過5微米,提供20mg,若尺寸過大請提前咨詢客戶經理;3. 粉末/液體樣品請備注好制樣條件,包括分散液,超聲時間及配制濃度;4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過5um,一定要標明測試面!若尺寸過大請提前咨詢客戶經理5.?測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上,基底大小最小不小于1*1cm。其他問題請咨詢客戶經理。
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