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http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做，歡迎咨詢 掃描電子顯微鏡SEM 型號：jeol jsm7500f；Zeiss Gemini 300；Zeiss Sigma 500日立Regulus8100；Quanta FEG 250等 測試項目： 形貌、點掃、線掃、mapping 備注：非磁、弱磁、強磁樣品均可拍攝 樣品要求： 一、制樣說明 粉末、液體、薄膜、塊體均可測試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長寬小于1cm，厚度小于1cm 1、粉體樣品，常規粉末直接粘到導電膠上測試，如需分散后測試請提前說明； 2、液體樣品，測試老師根據樣品要求及實驗室條件，隨機選擇滴到導電膠、硅片或鋁箔上，如有指定要求請提前說明； 3，薄膜或塊體，請標明測試面，如需測試截面，請自行自備截面或提前說明 二、樣品要求 僅針對材料類樣品，生物等樣品另外說明。要求樣品無毒、無放射性、干燥無污染、熱穩定性好、耐電子束轟擊。 1，樣品是否導電 對于不導電或導電性差的樣品，建議做噴金處理（以增強樣品的導電性），默認噴金時長50s，如需延長噴金時間或噴碳等請提前說明 2，樣品是否有磁性 磁性顆粒，易吸附到極靴上，原則上電鏡（SEM和TEM）不拍磁性樣品。 根據不同老師的經驗，對所拍樣品中磁性強弱的接受度不同，所以請大家務必如實填寫樣品是否含磁及磁性的強弱。 為方便大家區分磁性及強弱，做如下簡單粗暴定義：非磁、磁性（弱磁、強磁）。 含鐵、鈷、鎳均為磁性樣品，吸鐵石能吸起來為強磁，吸鐵石吸不起來為弱磁。 備注：磁性分硬磁和軟磁，有些材料對外不表現磁性，但加磁場后容易磁化，受熱后磁性增強。 透射電子顯微鏡TEM 型號：FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS 測試項目： 可測項目：形貌、能譜點掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射 備注：非磁、弱磁、強磁樣品均可拍攝 樣品要求： 1. 樣品狀態 粉末、液體樣品均可，薄膜和塊體等無法直接測試，需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣請提前說明并確認 2. 樣品成分要求 該說明僅針對材料測試類樣品，生物類樣品與材料類處理方式完全不同（請參考生物類測試樣品要求）。一般對測試樣品有如下幾方面的要求： 安全性：無毒、無放射性； 是否含有有機物：有機物在高壓下不穩定，拍攝過程中極易被打散，樣品被打散的同時會污染到儀器，如需拍攝，請務必與工作人員確認。帶有機物的樣品，無法拍攝mapping，請在預約的時候不要選擇此選項。 磁性：磁性顆粒，易吸附到極靴上，原則上電鏡（SEM和TEM）不拍磁性樣品。但是不同的設備，測試老師不同的樣品處理經驗狀況下，對所拍樣品中磁性強弱的接受度不同，所以在預約時候請大家務必如實填寫樣品是否含磁及磁性的強弱。