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http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做，歡迎咨詢 掃描電子顯微鏡SEM 型號(hào)：jeol jsm7500f；Zeiss Gemini 300；Zeiss Sigma 500日立Regulus8100；Quanta FEG 250等 測(cè)試項(xiàng)目： 形貌、點(diǎn)掃、線掃、mapping 備注：非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝 樣品要求： 一、制樣說(shuō)明 粉末、液體、薄膜、塊體均可測(cè)試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長(zhǎng)寬小于1cm，厚度小于1cm 1、粉體樣品，常規(guī)粉末直接粘到導(dǎo)電膠上測(cè)試，如需分散后測(cè)試請(qǐng)?zhí)崆罢f(shuō)明； 2、液體樣品，測(cè)試?yán)蠋煾鶕?jù)樣品要求及實(shí)驗(yàn)室條件，隨機(jī)選擇滴到導(dǎo)電膠、硅片或鋁箔上，如有指定要求請(qǐng)?zhí)崆罢f(shuō)明； 3，薄膜或塊體，請(qǐng)標(biāo)明測(cè)試面，如需測(cè)試截面，請(qǐng)自行自備截面或提前說(shuō)明 二、樣品要求 僅針對(duì)材料類樣品，生物等樣品另外說(shuō)明。要求樣品無(wú)毒、無(wú)放射性、干燥無(wú)污染、熱穩(wěn)定性好、耐電子束轟擊。 1，樣品是否導(dǎo)電 對(duì)于不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆畹臉悠罚ㄗh做噴金處理（以增強(qiáng)樣品的導(dǎo)電性），默認(rèn)噴金時(shí)長(zhǎng)50s，如需延長(zhǎng)噴金時(shí)間或噴碳等請(qǐng)?zhí)崆罢f(shuō)明 2，樣品是否有磁性 磁性顆粒，易吸附到極靴上，原則上電鏡（SEM和TEM）不拍磁性樣品。 根據(jù)不同老師的經(jīng)驗(yàn)，對(duì)所拍樣品中磁性強(qiáng)弱的接受度不同，所以請(qǐng)大家務(wù)必如實(shí)填寫(xiě)樣品是否含磁及磁性的強(qiáng)弱。 為方便大家區(qū)分磁性及強(qiáng)弱，做如下簡(jiǎn)單粗暴定義：非磁、磁性（弱磁、強(qiáng)磁）。 含鐵、鈷、鎳均為磁性樣品，吸鐵石能吸起來(lái)為強(qiáng)磁，吸鐵石吸不起來(lái)為弱磁。 備注：磁性分硬磁和軟磁，有些材料對(duì)外不表現(xiàn)磁性，但加磁場(chǎng)后容易磁化，受熱后磁性增強(qiáng)。 透射電子顯微鏡TEM 型號(hào)：FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS 測(cè)試項(xiàng)目： 可測(cè)項(xiàng)目：形貌、能譜點(diǎn)掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射 備注：非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝 樣品要求： 1. 樣品狀態(tài) 粉末、液體樣品均可，薄膜和塊體等無(wú)法直接測(cè)試，需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣請(qǐng)?zhí)崆罢f(shuō)明并確認(rèn) 2. 樣品成分要求 該說(shuō)明僅針對(duì)材料測(cè)試類樣品，生物類樣品與材料類處理方式完全不同（請(qǐng)參考生物類測(cè)試樣品要求）。一般對(duì)測(cè)試樣品有如下幾方面的要求： 安全性：無(wú)毒、無(wú)放射性； 是否含有有機(jī)物：有機(jī)物在高壓下不穩(wěn)定，拍攝過(guò)程中極易被打散，樣品被打散的同時(shí)會(huì)污染到儀器，如需拍攝，請(qǐng)務(wù)必與工作人員確認(rèn)。帶有機(jī)物的樣品，無(wú)法拍攝mapping，請(qǐng)?jiān)陬A(yù)約的時(shí)候不要選擇此選項(xiàng)。 磁性：磁性顆粒，易吸附到極靴上，原則上電鏡（SEM和TEM）不拍磁性樣品。但是不同的設(shè)備，測(cè)試?yán)蠋煵煌臉悠诽幚斫?jīng)驗(yàn)狀況下，對(duì)所拍樣品中磁性強(qiáng)弱的接受度不同，所以在預(yù)約時(shí)候請(qǐng)大家務(wù)必如實(shí)填寫(xiě)樣品是否含磁及磁性的強(qiáng)弱。