芯片IC、集成電路可靠性測試、靜電測試、失效分析，GRGT

芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證(RA)芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113；高溫存儲試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103；溫度循環(huán)試...

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無線通信芯片、5G芯片可靠性測試、ESD測試，及芯片車規(guī)級認(rèn)證

無線通信芯片、5G芯片測試   無線通信模塊使各類終端設(shè)備具備聯(lián)網(wǎng)信息傳輸能力。其是連接物聯(lián)網(wǎng)感知層和網(wǎng)絡(luò)層的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。屬于底層硬件環(huán)節(jié)，具備其不可替代性。無線通信...

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光通信芯片、視覺處理芯片測試認(rèn)證，芯片可靠性測試、ESD測試、失效分析

光通信模塊芯片、視覺處理芯片測試   光通信芯片是一種高度集成的元器件，其所集成的元件包括激光器、調(diào)制器、耦合器、分束器、波分復(fù)用器、探測器等。目前業(yè)內(nèi)有兩大類...

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飾品及時(shí)尚配件檢測

飾品的精致，點(diǎn)綴出生活的美。在這個(gè)性彰顯的年代里，形形色色各式各樣的飾品不斷涌現(xiàn)出來。飾品與肌膚的親密接觸，為您增光添彩。但如果飾品中含有有毒有害物質(zhì)或其他潛在危險(xiǎn)，那將對您的身體...

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國標(biāo)飾品法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)

1.GB28480-2012GB28480-2012《飾品有害元素限量的規(guī)定》是我國首次發(fā)布的限制非貴金屬飾品（除珠寶玉石）中有害物質(zhì)的強(qiáng)制標(biāo)準(zhǔn)，已于2013年5月1日正式實(shí)施。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各類非貴金屬首飾...

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美國飾品法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)

1.CPSIA美國消費(fèi)品安全促進(jìn)法案（CPSIA）嚴(yán)格要求了兒童產(chǎn)品中的鉛含量，其限值根據(jù)基材和表面涂層而定。此外，該法案還限制了兒童玩具及兒童護(hù)理用品中的有害鄰苯二甲酸鹽6P的含量。&...

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加拿大飾品法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)

SOR/2011-192011年2月，加拿大發(fā)布了《兒童珠寶條例》（Children’sJewelryRegulations），并規(guī)定于2011年6月20日起，供15歲以下兒童佩戴的珠寶首飾中，總鉛含量不得超過600mg/kg，可...

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歐盟EN1811測試

項(xiàng)目背景歐盟EN1811測試是針對各種與皮膚直接及長期接觸的各種產(chǎn)品中鎳元素的釋放量測試標(biāo)準(zhǔn)，包括首飾、手表、眼鏡架、手機(jī)等。EN1811檢測主要針對鎳元素的釋放.EN1811測試標(biāo)準(zhǔn)公布于OJC...

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高低溫測試

高低溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度決于高低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。高低溫測試標(biāo)準(zhǔn)： GB/T2423.1  IEC60068-2-1...

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鹽霧測試

鹽霧試驗(yàn)是一種主要利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗(yàn)。它分為二大類，一類為天然環(huán)境暴露試驗(yàn)，另一類為人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)。人工...

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UV老化測試

UV光照老化試驗(yàn)箱用來評估材料在褪色、顏色變化、光澤、裂紋、起泡、脆化、氧化等方面的變化。從而為材料配方的改進(jìn)、產(chǎn)品性能的提高提供依據(jù)。UV光照老化試驗(yàn)箱主要是用于塑膠、涂料、橡膠材料...

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IP防塵防水測試

IP防塵防水測試介紹防塵測試防塵測試用于測定產(chǎn)品抗微塵的范圍，常用作檢測電子電工產(chǎn)品在微塵環(huán)境中的防護(hù)能力。在自然環(huán)境中，免不了處于多塵沙的惡劣環(huán)境里，設(shè)備的密封能力對于保證...

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三綜合測試/溫度 濕度 振動

三綜合測試為：溫度/濕度/震動三綜合試驗(yàn)設(shè)備設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T2423.1-2008 電工...

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按鍵壽命測試

按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測試，適用于檢測按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。特點(diǎn)：●排序/同...

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可靠性跌落測試

跌落試驗(yàn)又名“包裝跌落測試機(jī)”，為產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面于不同的高度跌落于地面時(shí)的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時(shí)所能承受的墮落高度及耐沖擊...

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消費(fèi)級、車規(guī)級芯片（IC）HTOL、HAST、HTSL測試;廣電計(jì)量檢測

芯片環(huán)境可靠性試驗(yàn)高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL)參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A108；測試條件：FordevicescontainingNVM,endurancepreconditioningmustbeperformedbeforeHTOLperQ10...

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專業(yè)芯片靜電測試：芯片ESD/EOS測試（HBM、MM、CDM、LU）

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專業(yè)汽車電子設(shè)備檢測機(jī)構(gòu)：車載電子設(shè)備環(huán)境與可靠性測試

車載電子設(shè)備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)    隨著汽車產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，電子控制零部件、導(dǎo)航、娛樂、無線多媒體電子部件等越來越多，汽車的系統(tǒng)也變得越來越復(fù)雜，電子零部件產(chǎn)品...

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電子元器件二次篩選、失效分析、壽命老化試驗(yàn)；廣電計(jì)量檢測

電子元器件二次篩選元器件篩選的目的：1. 剔除早起失效產(chǎn)品。2. 提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。 元器件篩選的特點(diǎn)：1. 篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn)。...

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IC Tests Lab (RA、FA、ESD、AECQ);Professional IC test lab

ICTests(RA、FA、ESD、AECQ)ICAccelerated Environment Stress Tests：PC/TCT/HTSL/PTC/HAST/UHST.ICAccelerated Lifetime Simulation&...

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